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試驗(yàn)探針的基本要求和保養(yǎng)方法
更新時(shí)間：2019-12-10 點(diǎn)擊次數(shù)：2406
試驗(yàn)探針的生命周期中每一個(gè)階段都起著重要作用：從技術(shù)開(kāi)發(fā)，到模型參數(shù)提取，再到設(shè)計(jì)驗(yàn)證及調(diào)試一直到小規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試和生產(chǎn)測(cè)試。通過(guò)使用試驗(yàn)探針，人們便有可能在晶片層次上測(cè)量射頻組件的真正特性。
試驗(yàn)探針的基本要求和工作原理：
1）試驗(yàn)探針的平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對(duì)于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計(jì)，探針的接觸是用小的金屬球來(lái)實(shí)現(xiàn)的，這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。
2）為了能同時(shí)接觸到信號(hào)壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn)，需要將探針傾斜。這個(gè)過(guò)程被稱(chēng)為“探針的平面化”。
3）探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進(jìn)行探針極尖和在片標(biāo)準(zhǔn)及校準(zhǔn)方法的開(kāi)發(fā)。
4）具有很高重復(fù)性的接觸可以進(jìn)行探針的準(zhǔn)確校準(zhǔn)并將測(cè)量參考平面移向其極尖處。來(lái)自探針線和到同軸連接器的過(guò)渡所產(chǎn)生的探針的損耗及反射是通過(guò)由射頻電纜和連接器的誤差相類(lèi)似的方式而抵消的。
5）由于其很小的幾何尺寸，人們可以假設(shè)平面標(biāo)準(zhǔn)件的等效模型純粹是集總式的。此外，人們可以從標(biāo)準(zhǔn)件的幾何尺寸來(lái)很容易地預(yù)測(cè)模型參數(shù)。
試驗(yàn)探針的保養(yǎng)方法：
1、測(cè)試針清潔：保持測(cè)試針在清潔的狀態(tài)下是有效的方法來(lái)大地減低失敗率。
2、針頭：再有一些狀況不是只用刷子清潔就可以，因此用其他種類(lèi)的溶劑或清潔化劑將會(huì)是后的替代方法。建議方法是只要清潔針頭，就從冶具上移除測(cè)試針，捆在一起只用針頭泡在淺淺的清潔劑中大約五分種，用軟毛擦試，移除殘留物，然后曬干它，這樣就可以安裝回去繼續(xù)測(cè)試。
3、防塵套：有不少的治具廠都會(huì)提供防塵套以用來(lái)預(yù)防空污物掉落在測(cè)試針頭與針管上，在真空的治具里，灰塵容易掉進(jìn)測(cè)試針。
4、污漬清潔：為了不影響測(cè)試針管和侵害測(cè)試針內(nèi)壁的接觸面，從而導(dǎo)致阻抗的過(guò)速上升的情況，不要使用溶劑清潔測(cè)試針或使用溶劑浸泡來(lái)進(jìn)行污漬清潔。
5、環(huán)境保養(yǎng)：測(cè)試環(huán)境是引起測(cè)試針臟的主要因素，空氣在傳播中的污染物，像灰塵會(huì)掉落在針頭上引起接觸問(wèn)題，所以我們要對(duì)測(cè)試針的環(huán)境保養(yǎng)。
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